• 已选条件：
  • × 物理（综合）
  • × DURABILITY
 全选  【符合条件的数据共：2条】

1 Experimental Study on Mitigation of Lifetime-Limiting Dielectric Cracking in Extreme Temperature 4H-SiC JFET Integrated Circuits [科技报告]

作者:Spry, D J, Neudeck, P G, Chang, Carl W

发布日期:2019

关键词:DIELECTRICS;JFET;...

发布机构:

预览  |  原文链接  |  全文  [ 浏览：1 下载：4  ]    

2 Experimental Study on Mitigation of Lifetime-Limiting Dielectric Cracking in Extreme Temperature 4H-SiC JFET Integrated Circuits [科技报告]

作者:Spry, David J, Neudeck, Philip G, Chang, Carl W

发布日期:2019

关键词:AEROSPACE SYSTEMS;AUTOMOBILES;...

发布机构:

预览  |  原文链接  |  全文  [ 浏览：1 下载：2  ]